X射線衍射儀是根據(jù)布拉格衍射原理，通過(guò)晶體對(duì)X射線的衍射，獲得樣品內(nèi)部原子的排列信息。可以對(duì)金屬固體、粉末或薄膜等樣品進(jìn)行物相的定性和定量分析、晶格參數(shù)的測(cè)定、微觀應(yīng)力分析，還能對(duì)晶粒尺寸、薄膜厚度、點(diǎn)陣畸變等方面研究。X射線衍射儀是科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中*的重要儀器，在化學(xué)、化工、材料、地質(zhì)、冶金等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

　　

　　X射線衍射儀主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)宏觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等，根據(jù)實(shí)際需要可以安裝各種特殊功能的附件及相應(yīng)控制和計(jì)算機(jī)軟件，組成具有特殊功能的衍射儀。

　　

　　X射線衍射儀可實(shí)現(xiàn)無(wú)損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強(qiáng)度,衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點(diǎn)陣常數(shù)的精密測(cè)定,晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算,宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定,結(jié)晶度計(jì)算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征zui常規(guī)和zui有效的方法之一

　　

　　X射線衍射儀特點(diǎn)：

　　

　　●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要；

　　

　　●高精度的衍射角度測(cè)量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果；

　　

　　●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度；

　　

　　●程序化探作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀。

　　

　　X射線衍射儀應(yīng)用范圍：

　　

　　物相定性、定量；材料結(jié)晶度測(cè)定；點(diǎn)陣參數(shù)測(cè)定；納米材料微結(jié)構(gòu)（晶粒尺寸、微觀應(yīng)力）測(cè)定；介孔材料小角衍射；掠入射衍射。